1，GT/s 是什么意思？
2，如果是按照8.0GT/s测试的话，怎么理解“The measured differential S parameter shall be referenced to an 85 Ω differential impedance.”？
我的想法是将校正板都用100的load，连接器不测试的用50的term。网络分析仪还是用50的。然后测试出的s参数，放到ADS里面，在term的地方改成42.5ohm。不知道这样可否。
网分为50欧测试出的S参数，只是50欧归一化，其实这个S2P文件适合任何TERM端口阻抗。
你在ADS对传输线进行42.5归一化是没有问题的。
如果避免数学方法转换和测试误差，建议还是多少欧的端口测试多少欧的传输线，这样最精准。
如果没有相应仪器，只能做个转换的夹具。
但是：
在对特性阻抗不等于网络分析仪端口的特性阻抗(50 Ω) 的元器件进行测试时，就需要变换网络分析仪的端口特性阻抗。理论上，可使用适当的变换器把网络分析仪的端口阻抗变换成实际上存在的任意阻抗。但这种方法在现实使用中有一些问题: 首先是变换器的非理想特性会引入测量误差，这种误差没有办法从测试结果中去除掉，因为没有非50 Ω 的可溯源的校准标准件。其次是RF 变换器只有相对窄的频带。夹具仿真器采用的更现实方法是根据用户规定的端口阻抗，用数学计算法变换端口阻抗，这等效于在测量电路中嵌入了一个理想变换器(注意在夹具仿真器中规定的端口阻抗是正实数)。
今年安捷伦已经推出任意端口阻抗的网络分析仪。
感谢射频工程师提供帮助！
我测试采用方法是这样的。
1，改变网分的系统阻抗由50欧姆到42.5欧姆。
2，测试方法采用TRL校正。load是42.5欧姆的电阻，trace也是42.5欧姆的。
我有个问题，那网分的测试线缆都是50欧姆的，会有影响吗？
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