例如DDR2/3中涉及到的tDS、tDH、CLK的时序与抖动统计计算、tDQSS等，读写时序的逻辑控制
如果通过编程的方法实现自动化测量，有熟悉的朋友么？
有那些思路、方法与例子呢？
可以考虑用Quartus II或者Modelsim软件试试
你这属于RTL 数字逻辑 跟这个好像不相关啊
ADS2009U1及以后版本：
在安装完成后，安装路径下的compliance Kits文件夹中有DDR2/3的designkit， 安装这个designkit可以使用其中的工具进行相应的测量，designkit'的doc文件夹中有文档说明
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