具体参数如下:
最下面一层是Si,厚度525um
上面成长一层SiO2,厚度0.5um
然后在上面覆盖一层介质层,厚度10um
在介质层上面用铜作平面电感,厚度10um
我用HFSS仿真2G,扫描0.1-10G,网格数设置为10w,观察电感的Q值
发现仿真结果有以下几个问题:
1。在低频0.1-1G时,仿真曲线不平滑,有凸起
2。增加介质层厚度(从10->15->20->25->30等),按理Q应该增加,但仿真中10与15结果相近,20与25结果相近,以此类推。
我老板给出的结论是网格的问题,但是对于525um以及0.5um和10um,该如何分别设置网格比较合适,我曾简单试过,但没有理论根据,ms解决不了问题
下图是仿真的结果,麻烦大家出出主意,我是一个HFSS新手,对于电磁场理论知道的也不多,还请大家多多帮忙讨论讨论,谢谢了:)
最好能够附一个仿真源文件!
至于你说的,我想跟设置应该会有关系!不过,像这样晶体管级的设计,设置不能粗糙,网格划分精细点,牺牲一些仿真时间是必要的。
题外话:
这个是世界级的课题!
如果能够做出Q值超过100的半导体工艺螺旋电感,你可以去申请诺奖了!
谢谢楼上的牛人:)
我将仿真文件贴上,供大家参考
现在的问题还是低频时各种厚度介质层的曲线都重合
我准备分段仿真查看一下,即0.1-1G,1-3G,3-10G,中心点分别是0.5,2和6.5G
对于网格的划分
我才用的是自动划分
也曾用过手工分结构划分
但是结果变化不明显
很有可能是我手工划分得不对
因为我对有限元仿真及网格划分等知道得太少了,这是第一次做。
还请大家帮忙看看,谢谢了:)
btw:平面电感有做到100的吗?我看文献都没看到,我能做到25老板就可以让我毕业了:(
另外还加了一个文献的结果
RF_inducor_bcb=10um.rar (14 K)
呵呵,牛人不敢,道听途说的!
据说,目前最好的是30几!
曾经有仿真过平面电感,(基于PCB的)!
建议你采用八边型的,方形的磁场分布非常的不均匀。
像你这个尺寸这么大的要实现25的Q值应该不难!
文献上ms就是30
关键是老板要求仿真一定要准确,才能跑工艺流水
你这个应该是半导体工艺的吧!
那线圈、过孔为什么还用铜,半导体工艺可以实现吗?(这个在RFIC里面的做法我不是很清楚,还请多多指教!因为传统的半导体工艺是铝做金属导体的,过孔还真不知道怎么处理,应该不是铜吧!)
还有,你改变介质厚度,过孔高度,有没有相应跟着改变?
是半导体封装工艺
改变介质厚度
过孔绝对高度改变,相对不变
谢谢,有点收获了
lZ 是参照的哪篇文献啊,能不能给个名字啊
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